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X-RAY膜厚儀工作原理XRF-2020

更新時間:2024-11-05

簡要描述:

韓國XRF-2020測厚儀
X-RAY膜厚測量儀X射線鍍層測厚儀應用
快速無損檢測電子電鍍層厚度
可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
X-RAY膜厚儀工作原理XRF-2020


X-RAY膜厚儀工作原理XRF-2020


應用原理:


覆蓋層單位面積質量

(底材需為已知,覆蓋層線性厚度)

和二次輻射強度之間存在一定的關系。對于任何實際的儀器系統

該關系首先已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。

若覆蓋層材料的密度已知,同時又給出實際的密度

則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。


熒光強度是元素原子序數的函數,如果表面覆蓋層、中間覆蓋層

如果存在)以及基體是由不同元素組成或一個覆蓋層由不止一個元素組成

則這些元素會產生各自的輻射特征。

可調節適當的檢測器系統以選擇一個或多個能譜,

使此設備既能測量表面覆蓋層又能同時測量表面覆蓋層

和一些中間覆蓋層的厚度和組成。


X熒光鍍層測厚儀測試報告:包括下列內容:


1.本標準的編號;

2.試樣的準確標識;

3.測量日期;

4.試樣上測量位置;

5.平均每份報告的測量次數;

6.尺寸不同,要標明準直器孔徑和測量面積大??;

7.測量數值;

8. 用于X熒光厚度計算的密度值及使用理由;

9.報告的測量值具有代表性的標準偏差;

10.與本標準方法的差別:

11.可能影響報告結果解釋的因素:

12.實驗室名稱和操作者姓名;

13.近期的校準證書或其他可接受的參考標準塊的使用及溯源。

韓國MicroP XRF-2020膜厚儀

XRF-2020測厚儀X-RAY膜厚儀原理應用

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架半導體連接器等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等


X-RAY膜厚測量儀X射線鍍層測厚儀應用

可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層

鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.03-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um


X-RAY膜厚儀工作原理XRF-2020:快速無損檢測

X熒光無損快速測量



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